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手持式XRF合金分析仪X-200系列 光谱仪 合金分析仪

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手持式XRF合金分析仪X-200系列


分析仪采用基本参数法(fundamental parameters)、康普顿标准化法(Compton Normalization)及经验系数法(empirical calibration)校正。

一、用途:

1、能检测并鉴别出金属的种类、含量以及杂质成分。

3、仪器预装多基体标准合金库,合金库中包括400余种合***号,用户也可自己建立合***号库。

合金分析仪主机、防尘抗震手提箱、操作系统和分析软件、校准证书、数据传输线、智能充电系统、充电电池等。

1、主机重量≤1.4KG(含电池),便于携带。

3、校正方法:分析仪采用基本参数法(fundamental parameters)、康普顿标准化法(Compton Normalization)及经验系数法(empirical calibration)校正

5、激发源:微型直板电子X射线管,内置40kV/50kV多段可选择的电压。射线管靶材:Au/Rh

7、电源:两节通用型充电锂离子电池,使用时间不少于10小时。

9、光斑大小:内置小点准直器,射线管光束≤3mm,可对焊点进行瞄准测试。

11、CPU运算方式:浮点15、一体化设计:仪器无需插件式PDA, 显示器与仪器一体化的液晶触摸屏,防尘防水。

13、远程维护功能:可通过计算机对仪器实现远程操控,并能进行上传下载、数据和谱图处理、编辑、输出分析报告。

15、辐射安全防护性能:具有明显的射线开启警示灯,并具有自动保护装置,窗口前无被测物时,启动的仪器会在2秒后自动停止测试。

应用模式

可分析元素:光束 1 (40 kV)

光束 2 (10 kV)

光束 3 (50 kV)

矿石模式

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Au, Hg, Pb, Bi, U

Mg, Al, Si, P, S, K, Ca

Ag, Sn, Sb, Ba

土壤模式

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Mo, W, Tl, Hg, Pb, Bi

Mg, Al, Si, P, S

Ag, Cd, Sn, Sb, Ba

合金模式

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb

Mg, Al, Si, P, S

N/A

贵金属模式

Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, W, Au, Ge, Ir, Pt, Au, Pb, Bi, Zr, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb

N/A

N/A


    *产品信息仅供参考,型号和技术参数生产厂家有可能随时更改    


手持式XRF合金分析仪X-200系列
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